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X 射線測厚儀 Fischerscope X-RAY測厚儀信息
點擊次數：245 更新時間：2025-07-29 打印本頁面 返回
菲希爾 X 射線測厚儀 Fischerscope X-RAY 的典型應用領域較為廣泛，除了題干中提及的內容外，還包括以下方面：
電子與半導體行業：可測量電子元件上的功能性鍍層厚度，如金、鈀等鍍層，常用于檢測連接器、引線框架、印刷電路板（PCB）上的鍍層，確保產品質量和性能。還能分析復雜多層涂層系統，以及根據 RoHS、WEEE、CPSIA 等指令對電子產品中的有害物質進行痕量分析，如檢測塑料中的鉛、鎘等元素。
光伏行業：可用于測量太陽能電池薄膜的厚度，如 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 等薄膜層的厚度測量，以及這些薄膜層的成分分析。還能在連續生產過程中進行涂層厚度控制和工藝監測，確保光伏產品的質量和性能穩定。
手表和珠寶行業：可用于分析黃金和其他貴金屬及其合金的成分，確定其純度，還能測量珠寶首飾上鍍層的厚度，如裝飾性鍍層或保護性鍍層，幫助鑒定珠寶品質和真偽。
小型零件檢測：通過選配便攜式智能箱，可將 XAN500 型變為小型臺式測量設備，用于檢測小型樣品，如螺母、螺栓等批量生產的小型零件的鍍層厚度和材料成分，確保產品符合質量標準。
裝飾性涂層檢測：可對裝飾性鉻涂層，如鉻 / 鎳 / 銅 / ABS 等進行厚度測量和成分分析，常用于汽車內飾件、家具五金等表面裝飾涂層的質量檢測，保證產品的美觀和耐用性。
