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泰勒霍普森金屬表面粗糙度儀DUO信息
點(diǎn)擊次數(shù)：341 更新時(shí)間：2025-04-26 打印本頁面 返回
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO測量原理
金剛石測針與驅(qū)動裝置
采用耐磨的金剛石測針部件和精密機(jī)動驅(qū)動裝置，確保測針沿被測表面水平移動時(shí)行進(jìn)距離的準(zhǔn)確性。壓電傳感與信號轉(zhuǎn)換
當(dāng)測針劃過表面波峰和波谷時(shí)，高靈敏度壓電傳感器會檢測測針的垂直位移，并將機(jī)械運(yùn)動轉(zhuǎn)換為電信號。數(shù)字化處理與參數(shù)計(jì)算
電信號經(jīng)數(shù)字化處理后傳輸至微處理器，通過標(biāo)準(zhǔn)化算法（如ISO 4287）即時(shí)計(jì)算出Ra、Rz、Rp、Rv、Rt等粗糙度參數(shù)。
泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO
其他核心功能與技術(shù)特點(diǎn)
藍(lán)牙無線通信
驅(qū)動裝置與顯示/控制單元之間采用藍(lán)牙技術(shù)實(shí)現(xiàn)快速可靠的數(shù)據(jù)傳輸，支持5米范圍內(nèi)遠(yuǎn)程操作。分體式設(shè)計(jì)
通過滑軌和鎖定裝置分為顯示/控制單元與驅(qū)動單元，便于測量狹小空間或復(fù)雜位置。
